本専攻の四家寛也さん(黒田研・修士2年)が第19回 IEEE EDS Japan Joint Chapter Student Award を受賞しました!!
https://www.ieee-jp.org/section/tokyo/chapter/ED-15/ed15_award.htm
この賞は,日本国内の大学,大学院に所属する若い学生研究者のなかで,電子デバイス技術への貢献が優れて大きいと認められる者に授与されるもので,IEEE Electron Device Society主催の重要国際学会において,第一著者として口頭発表した学生研究者の中から,毎年数名の受賞者が選考されます.
今回,電子デバイス分野の旗艦学会であるIEDM2020で発表した以下の論文発表が認められ、受賞に至りました.
この発表は,次世代放射光施設での利用を目指して、理研・量研機構・物材研・東大・兵庫県立大・ラピスセミコンダクタ等と共同で推進している軟X線検出器の研究開発に関するものです.
H. Shike, R. Kuroda, R. Kobayashi, M. Murata, Y. Fujihara, M. Suzuki, T. Shibaguchi, N. Kuriyama, J. Miyawaki, T. Harada, Y. Yamasaki, T. Watanabe, Y. Harada and S. Sugawa
A Global Shutter Wide Dynamic Range Soft X-ray CMOS Image Sensor with BSI Pinned Photodiode, Two-stage LOFIC and Voltage Domain Memory Bank,
2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM2020), pp.339-342, Online, Dec. 2020.
おめでとうございます!!